科研級(jí)三目正置金相顯微鏡明暗場(chǎng)適用于對(duì)不透明物體的顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)偏光觀察、暗場(chǎng)觀察等功能，緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì)，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。

產(chǎn)品概述

科研級(jí)三目正置金相顯微鏡明暗場(chǎng)LH-71A正置金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體的顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)偏光觀察、暗場(chǎng)觀察等功能，緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì)，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。

1. 主要特點(diǎn)

• 正置設(shè)計(jì)：物鏡位于樣品上方，適合觀察小型或薄片樣品。

• 三目鏡筒：支持雙目觀察和第三目連接攝像頭，便于圖像采集和記錄。

• 科研級(jí)三目正置金相顯微鏡明暗場(chǎng)：支持明場(chǎng)（Brightfield）和暗場(chǎng)（Darkfield）兩種觀察模式，適用于不同樣品的顯微分析。

• 高分辨率：采用優(yōu)質(zhì)光學(xué)鏡片和照明系統(tǒng)，成像清晰，細(xì)節(jié)表現(xiàn)力強(qiáng)。

• 多功能性：支持偏光、微分干涉（DIC）等高級(jí)觀察模式（根據(jù)配置）。

2. 主要組成部分

• 光學(xué)系統(tǒng)：包括物鏡、目鏡和聚光鏡，提供高清晰度的圖像。

• 三目鏡筒：兩個(gè)目鏡用于觀察，一個(gè)目鏡用于連接攝像頭或相機(jī)。

• 物鏡轉(zhuǎn)換器：支持多物鏡切換，通常配置5X、10X、20X、50X、100X等物鏡。

• 載物臺(tái)：機(jī)械式或電動(dòng)式載物臺(tái)，可精確移動(dòng)樣品。

• 照明系統(tǒng)：反射光照明，支持明場(chǎng)和暗場(chǎng)觀察模式。

• 調(diào)焦系統(tǒng)：粗調(diào)和微調(diào)旋鈕，用于精確聚焦。

• 攝像頭接口：支持連接數(shù)碼相機(jī)或攝像頭，進(jìn)行圖像采集和分析。

3. 應(yīng)用領(lǐng)域

• 材料科學(xué)：用于金屬、陶瓷、復(fù)合材料等的金相分析。

• 半導(dǎo)體行業(yè)：用于晶圓、芯片等微觀結(jié)構(gòu)的觀察和分析。

• 質(zhì)量控制：在制造業(yè)中用于檢測(cè)材料的微觀結(jié)構(gòu)和缺陷。

• 科研教育：在高校和科研機(jī)構(gòu)中用于教學(xué)和研究。

• 失效分析：用于分析材料斷裂或失效的原因。

4. 技術(shù)參數(shù)

• 放大倍數(shù)：通常為50X至1000X（取決于物鏡和目鏡組合）。

• 物鏡：配置5X、10X、20X、50X、100X等物鏡，支持干鏡和油鏡。

• 照明系統(tǒng)：LED或鹵素?zé)艄庠矗炼瓤烧{(diào)。

• 載物臺(tái)：機(jī)械式載物臺(tái)（手動(dòng)）或電動(dòng)載物臺(tái)（自動(dòng)），移動(dòng)范圍通常為75mm x 50mm。

• 攝像頭分辨率：根據(jù)攝像頭型號(hào)，分辨率從500萬像素到2000萬像素不等。

5. 明場(chǎng)和暗場(chǎng)觀察模式

明場(chǎng)（Brightfield）

• 原理：光線直接通過物鏡照射樣品，反射光進(jìn)入物鏡形成圖像。

• 特點(diǎn)：適合觀察表面平整、反射率高的樣品，如金屬拋光面。

• 應(yīng)用：用于觀察材料的晶粒結(jié)構(gòu)、夾雜物、裂紋等。

暗場(chǎng)（Darkfield）

• 原理：光線以傾斜角度照射樣品，只有散射光進(jìn)入物鏡形成圖像。

• 特點(diǎn)：適合觀察表面粗糙或低反射率的樣品，如微小顆粒、劃痕等。

• 應(yīng)用：用于觀察材料的表面缺陷、微小顆粒分布等。

  
  

詳細(xì)參數(shù)